11月27日，在上周召開的由工信部電信研究院和TD技術(shù)論壇聯(lián)合主辦的“2012TD-LTE測試技術(shù)研討會(huì)”上，工業(yè)和信息化部電信管理局巡視員張新生表示，終端對整體推動(dòng)TD-LTE發(fā)展和產(chǎn)業(yè)鏈各環(huán)節(jié)健康有序進(jìn)行至關(guān)重要，而LTE終端的發(fā)展需要站在兩個(gè)制高點(diǎn)上去考慮，一個(gè)是芯片，一個(gè)是操作系統(tǒng)和應(yīng)用。

據(jù)張新生介紹，不管是TDD還是FDD，LTE終端都需要解決功耗問題，在電源控制技術(shù)和芯片制造技術(shù)上滿足功耗的需求。“從目前看，功耗需求如果無法滿足，LTE的終端就不可能實(shí)現(xiàn)老百姓的商用，其中最重要的原因就在于，過去主要是多頻單模的手機(jī)，但是現(xiàn)在為滿足LTE的發(fā)展，手機(jī)必須是全模全頻，而在全模全頻的條件下還要解決功耗問題就變得非常重要。因此，提供全模全頻的28納米的芯片將是一個(gè)發(fā)展中的戰(zhàn)略制高點(diǎn)。”

另外，張新生指出，隨著云計(jì)算、移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)和IPV6的發(fā)展，這將對終端提出一個(gè)更高的要求，就是不能再做功能機(jī)了，“智能終端的發(fā)展速度已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超過了功能機(jī)，而且隨著以終端為界面的移動(dòng)互聯(lián)網(wǎng)發(fā)展，目前智能機(jī)的發(fā)展已經(jīng)超過PC的發(fā)展。所以未來終端既是通信工具又是互聯(lián)網(wǎng)的工具，那么在互聯(lián)網(wǎng)的大前提下，它肯定要有各種應(yīng)用，也就是說終端設(shè)備，不僅僅是要關(guān)注于硬件平臺(tái)，還要關(guān)心操作系統(tǒng)和更多應(yīng)用。”

張新生表示，芯片市場發(fā)展迅速，未來將會(huì)有雙模或者多頻多模TD-LTE終端出現(xiàn)。而要想把這些實(shí)驗(yàn)室的產(chǎn)品推向市場，必須要使產(chǎn)品能夠保證消費(fèi)者的權(quán)益，滿足消費(fèi)者使用過程中的質(zhì)量要求，儀表測試技術(shù)和儀器就變得非常關(guān)鍵。為此，一是需要打造良好測試環(huán)境，二是建立完善的測試標(biāo)準(zhǔn)體系。

“測試技術(shù)和儀表基本可以滿足當(dāng)前對系統(tǒng)設(shè)備測試的要求。”張新生認(rèn)為，“然而，對終端測試的有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)和儀器儀表仍需要再加碼，這是因?yàn)橐呀K端推向市場，必須制定出一套適應(yīng)其發(fā)展的測試標(biāo)準(zhǔn)，按照這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測。這就靠一套能夠檢測出或者按照標(biāo)準(zhǔn)去檢測的儀器儀表。”

另外，張新生認(rèn)為，由于測試時(shí)間長和價(jià)格高昂，導(dǎo)致TD-SCDMA終端發(fā)展?fàn)顩r并不可觀，因此，在推動(dòng)TD-LTE終端發(fā)展時(shí)，不僅要有好的測試環(huán)境、手段和條件，還要儀表企業(yè)提供速度快、價(jià)格便宜、方便的終端測試。實(shí)際上，儀表在推動(dòng)整個(gè)產(chǎn)業(yè)中起到非常重要的作用。